开关电源芯片的失效分析与可靠性研究  

Chip failure analysis and reliability research of SMPS

作　　者：陈中炜 

机构地区：[1]格力电器(合肥)有限公司,安徽合肥230000

出　　处：《电子产品世界》2022年第8期23-28,45,共7页Electronic Engineering & Product World

摘　　要：随着科技的飞速发展,电器设备的使用越来越广泛,功能也越来越强大,体积也越来越小,导致了对电源模块要求在不断增加。开关芯片在应用中失效,经分析为电路设计本身可靠性差,导致开关芯片失效。本文通过增加放电与限流贴片电阻,对电路设计优化更改,使电路工作可靠性明显提高,满足电路设计需求,改善后应用失效大幅度减低。

关 键 词：弱电端短路 过电损伤 放电电阻 限流电阻 可靠性 

分 类 号：TN86[电子电信—信息与通信工程] TN40