一种应用于高边驱动芯片的负载开路检测电路设计  

作　　者：鲁怀贤 

机构地区：[1]合肥工业大学微电子学院,安徽合肥230009 [2]合肥仙湖半导体科技有限公司,安徽合肥230061

出　　处：《电子制作》2022年第15期52-54,100,共4页Practical Electronics

摘　　要：本文基于SOI工艺,设计优化了一种应用于高边驱动芯片的负载开路检测电路。针对传统检测方法消耗冗余电压降和检测误差大的问题,本电路使用双重判决模式加以解决;针对传统电路存在信号干扰引起的振荡及开关管开关损耗的问题,本电路使用滞回比较器加以解决,提高了负载开路检测的精度、有效性和可靠度。仿真结果表明,该电路可实现低阈值高精度电流检测,当设定的检测电流阈值为3mA时,电流检测精度高达98.5%;此外实现2V的抗干扰冗余电压,能够保证芯片正常运行。

关 键 词：智能功率集成电路 高边驱动电路 负载开路检测 高精度 低阈值 

分 类 号：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学]