低压电器温升试验影响因素分析  

作　　者：叶小木 王建新 

机构地区：[1]温州海关综合技术服务中心低压电器实验室

出　　处：《电气时代》2022年第8期69-72,共4页Electric Age

摘　　要：在低压电器产品的实际使用过程中,经常出现产品因发热烧坏的情况,特别是大电流产品,而造成烧坏的很大部分原因是产品长期通电引起产品部件温升异常。在实验室的测试过程中,发现影响低压电器温升试验的因素有很多。

关 键 词：温升试验 低压电器 产品部件 测试过程 温升异常 烧坏 实验室 影响因素分析 

分 类 号：TM52[电气工程—电器]