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检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:张文文 唐映强 Zhang Wenwen;Tang Yingqiang(Wuxi i-CORE Electronics Co.,Ltd.,Wuxi 214072,China)
机构地区:[1]无锡中微爱芯电子有限公司,江苏无锡214072
出 处:《电子技术应用》2022年第9期59-62,共4页Application of Electronic Technique
摘 要:为了缩短MCU芯片开发周期,提出了一种基于MCU芯片FPGA原型验证平台设计。该设计是将传统FPGA原型验证过程中使用FPGA的RAM原型替换程序存储单元,改为使用FPGA双端口RAM替换。其中一个端口控制按照传统的接入方法,另一端口控制信号接到专门的控制逻辑上,独立控制,而且不影响原MCU芯片功能。该方法不仅节省多次FPGA综合实现的时间,而且可以灵活实时监测RAM,方便查错。同时该方法具有通用性,可移植到类似的SoC系统架构FPGA原型验证系统中去。In order to shorten the development cycle of Microcontroller Unit(MCU)chip,this paper proposes a Field Programmable Gate Array(FPGA)prototype verification platform design based on MCU chip.The design is to change the FPGA Random Access Memory(RAM)IP replace program storage unit used in the traditional FPGA prototype verification process into the FPGA dual port RAM IP.One port is controlled according to the traditional method,and the other port control signal is connected to the special control logic for independent control without affecting the function of the original MCU.The method not only saves the times of multiple FPGA synthesis,but also can monitor RAM in real time,which is convenient for error detection.At the same time,this method is universal and can be transplanted to FPGA prototype verification based on similar System on Chip(SoC)architecture.
关 键 词:MCU芯片 FPGA原型 验证平台 双端RAM 可复用
分 类 号:TP368.1[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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