检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:刘夜明 邓江辉 徐凝华 LIU Yeming;DENG Jianghui;XU Ninghua(Zhuzhou CRRC Times Semiconductor Co.,Ltd.,Hunan Zhuzhou 412001)
机构地区:[1]中车株洲时代半导体有限公司,湖南株洲412001
出 处:《中国质量》2022年第10期120-124,共5页China Quality
摘 要:针对半导体器件模组物料质量管理,结合FMEA思想,提出了一种可预见风险识别的系统方法物料DFX,并给出了风险程度的评估量化指导,根据风险的大小提供管控措施。该方法可作为FMEA的补充,助力物料质量风险管理,现已应用于实际工作中,取得了良好的效果,提高了模组物料的质量表现。In view of the semiconductor device module material quality management,combined with FMEA thought,this paper proposes a foreseeable risk identification of material DFX system method,and gives quantitative guidance on the asssment of the degree of risk.According to the size of risk,o provide control measures,this method can be used to supplement the FMEA,fill material quality risk management,It has been applied to the practice work,and has obtained the good effect and improved the quality perfomance of module materials.
关 键 词:物料风险识别 物料DFX FMEA 物料风险评估
分 类 号:TN305[电子电信—物理电子学]
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