检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:杨跃胜[1] 傅霖煌 YANG Yue-sheng;FU Lin-huang(Invengo Information Technology Co.,Ltd)
机构地区:[1]深圳市远望谷信息技术股份有限公司芯片研发中心
出 处:《中国集成电路》2022年第11期71-74,共4页China lntegrated Circuit
摘 要:提出一种基于数值遍历算法获取无源UHF RFID标签芯片灵敏度和阻抗值的测试方法。该方法基于复阻抗传输线匹配的原理,结合RFID标签灵敏度、标签天线阻抗和标签天线增益仿真值,遍历计算出标签芯片灵敏度值及标签天线的阻抗值。利用此遍历计算方法,获取NXP Ucode8标签芯片灵敏度及阻抗计算值,给出误差产生的原因。该测试方法对现有芯片阻抗测试方法进行补充,对RFID标签快速调试和应用具有重要参考意义。A test method based on numerical traversal algorithm to obtain the sensitivity and impedance of passive UHF RFID tag chip is proposed.Based on the principle of complex impedance transmission line matching,combined with the simulation values of RFID tag sensitivity,tag antenna impedance and tag antenna gain,the sensitivity value of tag chip and the impedance value of tag antenna are calculated by numerical traversal algorithm.Using this numerical traversal algorithm,the sensitivity and impedance calculation values of NXP ucode8 tag chip are obtained,and the cause of the error is given.This test method is a supplement to the existing chip impedance test,and has important reference significance for the rapid debugging and application of RFID tag.
分 类 号:TN492-34[电子电信—微电子学与固体电子学]
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