一款LVDS收发器芯片的应用验证  

作　　者：李博[1] 沈丹丹 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第五十八研究所

出　　处：《中国集成电路》2022年第11期81-84,共4页China lntegrated Circuit

摘　　要：本文通过对一款LVDS收发器芯片进行输出摆幅与温度变化关系、接收阈值与温度变化关系等关键参数的特征曲线测试,工作频率极限应力试验、多节点传输带载试验、温度冲击步进应力试验、机械冲击步进应力试验等步进应力特性测试,充分对该款芯片开展了应用验证。

关 键 词：LVDS收发器 应用验证 

分 类 号：TN859[电子电信—信息与通信工程] TN40