检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]中国电子科技集团公司第五十五研究所
出 处:《信息技术与标准化》2022年第11期56-60,共5页Information Technology & Standardization
摘 要:针对氢气作为气密性封装外壳中常见的内部气氛对电子元器件的性能、寿命及可靠性的破坏性影响,通过对封装外壳的材料及制造工艺进行分析,提出确定外壳内部氢气含量温度条件和时间条件的原则和方法,指导气密封装外壳内氢气含量的测试。In view of the destructive influence of hydrogen as a common internal atmosphere in hermetic packaging on the performance,life and reliability of electronic components,the material and manufacturing process of packaging shell were analyzed,the principles and methods for determining the temperature and time conditions of hydrogen content in the shell are presented to guide the measurement of hydrogen content in the gas-sealed shell.
分 类 号:V243[航空宇航科学与技术—飞行器设计] V443
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:18.119.102.182