近红外光谱技术在儿童脑损伤中的应用进展  

作　　者：罗华裕 黄琴蓉[1] 肖农[1] 

机构地区：[1]重庆医科大学附属儿童医院康复医学科,儿童发育疾病研究教育部重点实验室,国家儿童健康与疾病临床医学研究中心,儿童发育重大疾病国家国际科技合作基地,儿科学重庆市重点实验室,重庆400014

出　　处：《中华物理医学与康复杂志》2022年第10期946-949,共4页Chinese Journal of Physical Medicine and Rehabilitation

摘　　要：脑损伤是造成儿童残疾和死亡的主要原因之一,早期客观评估患儿病情变化对改善预后意义重大。近红外光谱技术(NIRS)是一项利用近红外光监测局部脑氧饱和度(rcSO2)的脑功能成像技术,具有无创、实时、连续监测rcSO2等优势。NIRS可以在床旁为脑损伤患儿提供更多关于脑的氧供信息,及时发现脑血氧信息的异常,其合理的使用可以为脑损伤患儿的临床诊断、治疗和预测预后等方面提供重要信息。本文概述了NIRS的基本信息,并对其在儿童脑损伤的应用情况以及最新进展进行综述,以期为NIRS在儿童脑损伤的临床应用提供参考。

关 键 词：近红外光谱技术 脑损伤 局部脑氧饱和度 儿童 

分 类 号：R726.5[医药卫生—儿科]