OCXO老化测试系统设计  

作　　者：赵斌 

机构地区：[1]河北远东通信系统工程有限公司,河北石家庄050200

出　　处：《电子制作》2022年第22期80-82,共3页Practical Electronics

摘　　要：本文提出一种恒温晶体振荡器(Oven Controlled Crystal Oscillator,简称OCXO)老化测试系统,对系统的结构功能、软件实现与硬件设计进行阐述。老化测试系统现已落地并应用于OCXO的生产测试工作中,性能稳定,运行可靠,为OCXO的规模化生产与测试工作提供保障与支持。

关 键 词：OCXO 老化率 MCU 测试系统 

分 类 号：TN752[电子电信—电路与系统]