一种提升芯片SPI性能评估能力的方法  

A method for improving chip SPI performance evaluation capability

作　　者：刘刚 LIU Gang(CEC Huada Electronic Design Co.,Ltd,Beijing Key Laboratory of RFID Chip Test Technology)

机构地区：[1]北京中电华大电子设计有限责任公司射频识别芯片检测技术北京市重点实验室

出　　处：《中国集成电路》2023年第1期82-86,共5页China lntegrated Circuit

摘　　要：本文介绍了一种提升芯片SPI接口通讯速度性能评估能力的方法。通过一种创新的COS设计方法,解决了传统方法的瓶颈,提高了芯片SPI接口通讯性能的评估能力,使SPI接口时钟频率从10 MHz提高到30 MHz。This paper introduces a design method for improving the communication speed and performance evaluation ability of chip SPI interface.Through an innovative cos design method,it solves the bottleneck problem of traditional methods.It improves the evaluation ability of chip SPI interface communication performance.The SPI interface clock frequency is increased from 10 MHz to 30 MHz.

关 键 词：SPI接口 COS设计 开发工具 

分 类 号：TN40[电子电信—微电子学与固体电子学]