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作 者:褚春艳 刘震涛[2] 陈明亮[2] 赵跃进 CHU Chunyan;LIU Zhentao;CHEN Mingliang;ZHAO Yuejin(Beijing Key Laboratory for Precision Optoelectronic Measurement Instrument and Technology,School of Optics and Photonics,Beijing Institute of Technology,Beijing 100081,China)
机构地区:[1]北京理工大学光电学院精密光电测试仪器及技术北京市重点实验室,北京100081 [2]中国科学院上海光学精密机械研究所量子光学重点实验室,上海201800
出 处:《光学技术》2023年第1期23-28,共6页Optical Technique
摘 要:随着天文观测对空间分辨率性能需求不断提升,迫切需要发展十米级、百米级甚至公里级光学合成孔径的望远镜。传统光学共位相的合成孔径成像技术面临着高精度相位技术的挑战,难以将长基线的合成孔径成像拓展到光学波段。强度干涉的测量方法对相位相对不敏感,为长基线的光学合成孔径提供了可能的技术方案。分别梳理了恒星强度干涉仪、星体散斑干涉仪的发展历程和关键科学问题,并分析了空间强度自关联合成孔径望远镜的技术特点和发展潜力。通过总结三种技术方案的特点,可为我国发展长基线光学合成孔径成像系统提供参考。With the increasing demand for spatial resolution performance of astronomical observation, it is urgent to develop telescopes with optical synthetic aperture of 10 meters, 100 meters or even kilometers. Traditional optical synthetic aperture imaging technology faces the challenge of high precision phase technology, it is difficult to extend the long baseline SAR imaging to optical band. The measurement method of intensity interference is relatively insensitive to phase, which provides a possible technical scheme for optical synthetic aperture with long baseline. The development history and key scientific problems of the stellar intensity interferometer and the speckle interferometer are reviewed respectively, and the technical characteristics and development potential of the space intensity autocorrelation synthetic aperture telescope are analyzed. By summarizing the characteristics of the three techniques, it can provide reference for the development of long baseline optical synthetic aperture imaging system.
关 键 词:合成孔径 高分辨率成像 强度干涉 散斑干涉 关联成像
分 类 号:TP394.1[自动化与计算机技术—计算机应用技术] TH691.9[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
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