基于Etest集成测试系统设计  

Design of Integrated Test System Based on Etest

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作  者:张雄林 邹佳鑫 邵德立 柏森洋 ZHANG Xiong-Lin;ZOU Jia-Xin;SHAO De-Li;BAI Sen-Yang(Automation Research Institute Co.,Ltd.of China South Industries Group Corporation,Mianyang Sichuan 621000,China)

机构地区:[1]中国兵器装备集团自动化研究所有限公司,四川绵阳621000

出  处:《机电产品开发与创新》2023年第2期44-46,共3页Development & Innovation of Machinery & Electrical Products

摘  要:在装备测试领域,均需要对产品功能、性能进行测试,传统测试中,一般使用万用表、示波器进行简单的测试,难于胜任复杂的、长时间、重复性的测试场景,本文选取了基于Etest软件测试开发环境平台进行了系统集成测试系统的构建,验证了其与常见的测试变量的采集、处理、显示等关键技术问题。In the field of equipment testing,it is necessary to test the function and performance of products.In traditional testing,multimeter and oscilloscope are generally used for simple testing.It is difficult to be competent for complex,long-term and repetitive test scenarios.In this paper,the Etest-based software test development environment platform is selected to build a system integration test system,and its key technical problems such as the collection,processing and display of common test variables are verified.

关 键 词:ETEST 适配器 测试 

分 类 号:TP39[自动化与计算机技术—计算机应用技术]

 

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