微波测试系统日志管理的设计与开发  

Design and Development of Log Management for Microwave Test System

作　　者：张凯 宗俊吉 霍鑫 李林 ZHANG Kai;ZONG Junji;HUO Xin;LI Lin(The 45^(th)Research Institute of CETC,Beijing 100176,China)

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第四十五研究所,北京100176

出　　处：《电子工业专用设备》2023年第2期26-30,共5页Equipment for Electronic Products Manufacturing

摘　　要：以探针设备为基础,重点描述日志功能。根据设备工艺要求及客户需求设定日志信息存储内容,并为设备中各模块建立统一日志信息存储渠道。采用VS2019+QT开发平台进行功能开发。实现在设备运行程序界面实时显示运行情况以及工艺参数数据,记录使用者的操作信息,为寻找操作问题提供高效追溯渠道,为其他模块开发者协作实现报错信息分类与报错后日志信息的显示,实现客户关于快捷查找错误的需求。Based on the probe device,the logging function is described emphatically.Set the log information storage content according to the technical requirements of the device and customer requirements,and establish a unified channel of log information storage for each module of the device.Using VS2019+QT development platform for functional development.To realize real-time display of operation status and process parameter data on the device running program interface,record user's operation information,provide efficient tracing channels for finding operation problems,cooperate with other module developers to achieve error information classification and display of log information after error,and realize customers'demand for quick error search.

关 键 词：微波测试 探针设备 日志管理 信息存储 

分 类 号：TN307[电子电信—物理电子学]