机载电子系统小型化通用测试设备设计  

作　　者：吴国宝[1] 宋帆[1] 曾俊华 

机构地区：[1]中国直升机设计研究所,江西景德镇333001

出　　处：《电子制作》2023年第6期82-85,共4页Practical Electronics

摘　　要：现代直升机机载电子系统功能强大、性能先进、集成度高、内外信号交联复杂,在装机使用过程中仅靠BIT无法实现故障模式的全覆盖。基于此,设计了一款小型化通用测试设备,该设备可对机载电子系统BIT无法检测故障模式以及BIT可检测但无法隔离至单个LRU/LRM的故障模式进行故障检测及隔离,有效弥补了BIT检测能力的不足。通过外场使用表明,该设备能较好地将BIT无法检测或隔离至单个LRU/LRM的故障模式进行有效定位至单个LRU/LRM。

关 键 词：机载电子系统 测试设备 

分 类 号：V243[航空宇航科学与技术—飞行器设计] V275.1