专利精选  

作　　者：于一帆(整理) 

机构地区：[1]《无损检测》编辑部

出　　处：《无损检测》2023年第4期87-88,共2页Nondestructive Testing

摘　　要：一种高动态自屏蔽脉冲涡流检测探头及缺陷检测方法申请号:CN202111559527.4公开日期(公开):2022.03.25申请(专利权)人:西安交通大学发明人:李勇;刘正帅;陈振茂;苏冰洁;任延钊摘要:本发明公开了一种高动态自屏蔽脉冲涡流检测探头及缺陷检测方法,该探头包括外部盘式激励线圈、内部覆盆式有源自屏蔽线圈、高精度磁场传感器和环形磁场梯度传感器阵列;盘式激励线圈和覆盆式有源自屏蔽线圈同轴放置.

关 键 词：激励线圈 磁场传感器 脉冲涡流检测 缺陷检测 自屏蔽 覆盆 磁场梯度传感器 西安交通大学 

分 类 号：TG115-18[金属学及工艺—物理冶金]