一种编号自动识别的光耦测试系统设计  

作　　者：鲍江 席曼曼 刘必晨[1] 张佳宁[1] 

机构地区：[1]重庆光电技术研究所,重庆400060

出　　处：《电子制作》2023年第10期16-19,15,共5页Practical Electronics

摘　　要：针对光耦测试过程高效率与高准确率要求,设计了一种编号自动识别光耦测试系统,系统由光耦测试台和图像采集模块两部分硬件组成,软件上采用动态库调用的三层次架构,能够实现多平台的快速开发,动态库涵盖了编号识别算法,并配以校验算法,提升识别成功率,最终制作出测试系统实物,通过实测,系统的测试效率和准确率达到了设计要求。

关 键 词：编号识别 光耦 自动测试 校验算法 

分 类 号：O429[理学—声学]