X荧光法测定高硅含量土壤样品的前处理方法研究  

作　　者：王会磊 任柄璋 王末 安晓宇 秦丹鹤 蒋海冰 宋向磊 

机构地区：[1]中国地质调查局廊坊自然资源综合调查中心,河北廊坊065000

出　　处：《山东化工》2023年第9期136-139,144,共5页Shandong Chemical Industry

摘　　要：X荧光光谱仪,在众多分析测试领域都有极大的应用,尤其是我国地矿实验室应用极为广泛,得益于地矿行业样品量巨大,经常动辄上万件的多元素分析,本文从生产过程遇到的高硅含量的土壤样品出发,对黏合剂甲基纤维素进行实验解决了部分地区高硅含量土样化探样品前处理不成型,测试不准的问题进行了实验验证,验证结果表明甲基纤维素能较好地解决样品掉块不成型的问题且不造成测试污染,精密度、准确度、检出限均能符合规范要求。

关 键 词：粉末压片法 基体效应 土样制备 黏合剂 干扰校正 矿物含量干扰 

分 类 号：O657.3[理学—分析化学]