低电压差分晶体振荡器信号质量相关参数测试方法研究  

作　　者：肖琴[1] 冯巍巍 

机构地区：[1]中国电子技术标准化研究院,北京100176

出　　处：《电子元器件与信息技术》2023年第4期184-186,共3页Electronic Component and Information Technology

基　　金：装备发展部共性项目《低电压差分晶体振荡器电参数测试技术研究》(项目编号:2110WK0004)。

摘　　要：低电压差分晶体振荡器可用于数据采集系统的时钟,其信号质量相关参数可直接影响系统精度和稳定性。对高输入频率信号进行采集,要保证高的有效位数,需要信号质量优秀的时钟,而表征低电压差分晶体振荡器信号质量的参数如稳态相位噪声、相位抖动、周期抖动等的测试值非常小,这对测试仪器的合理选择以及测试工装夹具的优化设计带来了巨大的挑战。通过研究低电压差分晶体振荡器信号质量相关参数的测试技术,在此基础上提出针对低电压差分晶体振荡器测试的统一方法,可以有效规范低电压差分晶体振荡器的电参数评价依据,补充和完善晶体振荡器质量考核指标体系。

关 键 词：低电压差分电路 晶体振荡器 相位噪声 抖动 

分 类 号：TN707[电子电信—电路与系统]