腔增强反照率光谱仪  

Cavity-enhanced Albedometer CEA-532

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出  处:《中国科学院院刊》2023年第S01期115-115,共1页Bulletin of Chinese Academy of Sciences

摘  要:主要技术与性能指标,气溶胶光学最低探测限(1σ,5 s):消光系数0.17 Mm−1,散射系数0.07 Mm^(−1),吸收系数0.17 Mm^(−1),气溶胶光学检测范围:0-2000 Mm^(−1),响应时间:5-300 s,测量误差:消光和散射系数3%,吸收系数4%,单次散射反照率5%,NO_(2)分子最低探测限(1σ,60 s):15 ppt,NO_(2)分子检测范围:20 ppt-100 ppb;测量误差:4%。

关 键 词:单次散射反照率 气溶胶 散射系数 吸收系数 消光系数 光学检测 探测限 响应时间 

分 类 号:O43[机械工程—光学工程]

 

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