可编程逻辑电路在线编程技术研究与实现  

作　　者：牟云飞 黄菊莲 王彩云 李燕 

机构地区：[1]西安西谷微电子有限责任公司,陕西西安710000

出　　处：《电子制作》2023年第12期103-105,共3页Practical Electronics

摘　　要：本文提出了一种基于ATE(Automatic Test Equipment)的可编程逻辑器件在线测试方法。通过以Teradyne J750HD为平台,以ALTERA的MAX7000和LATTICE的MachXO2系列芯片为研究对象,解决了可编程逻辑器件的在线测试技术。其中核心技术包括JTAG边界扫描技术的解析、满足ATE测试的DUT的专用测试板硬件端口设计,ATE测试向量生成工具设计。在线测试不仅具有测试效率高、可移植性强、故障覆盖率高、通用性好的优点,对于量产筛选测试具有实际应用意义。

关 键 词：ATE 在线测试 J750HD 边界扫描 测试向量 

分 类 号：TN791[电子电信—电路与系统]