一种实现单周期内纠正两位数据错误的方法  

作　　者：张颖 王棋 王欢 

机构地区：[1]西安紫光国芯半导体有限公司

出　　处：《中国集成电路》2023年第7期57-60,82,共5页China lntegrated Circuit

摘　　要：随着大规模集成电路对存储器的需求以及应用场景越来越广泛,对存储器的可靠性与数据传输的要求也日益严格。而随着工艺尺寸减小以及应用环境复杂,使存储数据不可避免的受到某些干扰。利用纠检错编译码及时纠正这些错误,减小对关键数据以及对计算机性能的影响是设计中常见的方法。而常用的汉明码纠一检二的纠错能力不能有效解决多位数据错误的问题。本文提出了一种基于BCH码实现单周期内并行纠正两位数据错误的方法,该方法可并行实现纠正32位数据中2位以内的错误。

关 键 词：BCH码 可靠性 多位纠错 单周期并行 

分 类 号：TP333[自动化与计算机技术—计算机系统结构] TN911.22[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]