^(239)P_(U)核查α、β表面发射率标准装置技术研究  

作　　者：郑慧[1] 吕己禄 卓仁鸿[1] 文德智[1] 刘易鑫[1] 

机构地区：[1]中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川绵阳621999

出　　处：《核标准计量与质量》2023年第2期2-6,共5页

摘　　要：为保证α、β表面发射率标准装置给出检定/校准数据的准确性,确保处于良好的运行状态。在标准装置核查技术上进行了实验研究,采用α标准源进行准确测量、核查、溯源,其测量结果用质量数据控制来评价,对给出检定数据的准确可靠和量值溯源的统一具有重要的计量保障意义。

关 键 词：α、β表面发射率 标准装置 量值溯源 计量保障 

分 类 号：TL811.2[核科学技术—核技术及应用]