两种直流低电阻测试仪校准装置的对比分析  被引量:2

Comparative Analysis of Two Calibration Devices for DC Low Resistance Testers

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作  者:经蕾 JING Lei(Anhui Changjiang Institute of Metrology&Measurement,Hefei 230088,China)

机构地区:[1]安徽省长江计量所,安徽合肥230088

出  处:《电子质量》2023年第7期66-69,共4页Electronics Quality

摘  要:直流低电阻测试仪是较常见的电学测量设备,测量速度快且精度高,基本取代了直流单、双臂电桥在一般条件下的直流电阻测量。近些年直流低电阻测试仪的计量校准方法较为成熟。使用两种不同的标准器具,对直流低电阻测试仪进行校准,并计算其不确定度。其中一种标准器具提供的是模拟电阻,另一种则是实物电阻。对两种不同标准源进行了比较,为广大计量工作者作出合理的选择提供了一定的参考。The DC low resistance tester is a common electrical measurement device with fast measurement speed and high accuracy,which basically replaces the DC resistance measurement of single and double arm bridges under general conditions.In recent years,the metrological calibration methods for DC low resistance testers have been relatively mature.Two different standard instruments are used to calibrate the DC low resistance tester and calculate its uncertainty.One of the standard instruments provides analog resistors,the other is physical resistors.Two different standard sources are compared,which provides a certain reference for the majority of metrology workers to make a reasonable choice.

关 键 词:直流低电阻测试仪 模拟电阻 实物电阻 不确定度 

分 类 号:TM934.1[电气工程—电力电子与电力传动]

 

参考文献:

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