平板导体深层缺陷定量检测仿真研究  

Simulation study on quantitative detection of deep defects in flat conductor

作　　者：辛楠 

机构地区：[1]安徽公安职业学院,合肥230000

出　　处：《电子产品世界》2023年第8期89-92,共4页Electronic Engineering & Product World

摘　　要：传统涡流传感器由于涡流的集肤效应以及检测中自身激励的干扰,难以测量导体深层缺陷信息,为了提高涡流传感器的检测能力,设计了矩形线圈模型,并改变了线圈模型的方位,可以有效的克服涡流的集肤效应,获取深层缺陷的信息。并采用数理统计方法对定量检测方法进行了研究,得出了缺陷深度与信号幅值之间的数学规律,经过验证,可以较为准确地对缺陷进行定量检测。

关 键 词：涡流传感器 深层缺陷 定量检测 数理统计 

分 类 号：TP212[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]