简易电路特性测试仪  

作　　者：林钰哲 张成涵宇 

机构地区：[1]杭州电子科技大学电子信息学院,浙江杭州310018

出　　处：《电子制作》2023年第15期81-85,共5页Practical Electronics

摘　　要：该简易电路特性测试仪系统的基本功能是测量并显示输入输出电阻阻值、放大器增益以及放大器的幅频特性曲线,并可判断由放大器电路元器件变化而引起故障或变化的原因,包括任意I电阻的短路或者开路,任意电容的开路或容值翻倍。本系统主要包括STM32G474VET6最小系统板、AD637有效值测量芯片,DDS信号源,HM串口屏。通过AD637采集输入输出信号的有效值,结合电路分析和软件算法,计算元器件参数、放大器增益。电路发生变化后可以自动分析故障原因,并通过串口屏显示。此外还可以通过自制DDS信号源变化输入信号频率,经过扫频测量后在串口屏上显示上限截止频率、绘制幅频特性曲线。

关 键 词：STM32G474VET6 DDS AD637 HM 

分 类 号：TM930[电气工程—电力电子与电力传动]