检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:严治强
机构地区:[1]中国直升机设计研究所
出 处:《中国科技信息》2023年第19期72-74,共3页China Science and Technology Information
摘 要:直升机试飞测试是直升机研发和制造过程中的关键环节,其旨在对直升机在各种飞行条件下的性能和安全性进行验证。目前的试飞测试方法主要依赖传统传感器,如压力传感器、温度传感器和加速度传感器等,来获得直升机在飞行过程中的关键参数,例如结构变形、温度分布和振动情况等等。然而,传统传感器存在一些局限性,如安装复杂、精度不高、易受干扰等,这限制了直升机试飞测试的继续发展。在此背景下,光纤传感器技术成为一种有潜力的解决方案。然而,光纤传感器技术在直升机试飞测试中的应用情况和挑战如何,仍然需要进行深入的研究和探讨。本文旨在探究光纤传感器技术在直升机试飞测试中的应用,具体包括光纤传感器技术的概述、直升机试飞测试的重要性、光纤传感器技术在直升机试飞测试中的应用及光纤传感器技术在直升机试飞测试中的挑战。通过对这些内容的研究,我们可以更好地了解光纤传感器技术对于直升机试飞测试的应用价值和潜力,为相关领域的研究和实践提供指导。
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