检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:JC Sun Christian Teske 曹欣欣 杨建民 JC SUN;Christian TESKE;CAO Xin-xin;YANG Jian-min(Bs&T Frankfurt am Main GmbH,Frankfurt am Main 60438,Germany;不详)
机构地区:[1]Bs&T Frankfurt am Main GmbH,Hessian Frankfurt am Main 60438 [2]东莞铭普光磁股份有限公司,广东东莞523000
出 处:《电力电子技术》2023年第8期130-132,共3页Power Electronics
摘 要:此处提出了一款新的基于半导体控制整流器(SCR)的高脉冲电流处理能力而开发的用于功率电感测量的脉冲测试系统。该测试系统可以通过高达10 kA的脉冲电流对功率电感进行饱和性能测试和功耗测试,且不会产生热应力。该测试系统具有短路保护功能,可以避免因输出短路造成对测试系统的损坏。受益于SCR器件高脉冲电流处理能力,该脉冲测试系统具有一些独特的性质,并且与基于IGBT的测试系统相比,其具有一些突出的优点。A new pulse test system for power inductance measurement is proposed based on the high pulse current handling capability of the semiconductor control rectifier(SCR).The system can test the saturation performance and power consumption of power inductance through pulse current up to 10 kA without thermal stress.The system is short-circuit protected to avoid damage to the test system due to output short-circuits.Benefiting from the high pulse current handling capability of the SCR device,the pulse test system has some unique characteristics and outstanding advantages over IGBT-based test systems.
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