芯片阻抗测试方法的研究:一个新视角  

作　　者：丁立业 朱小炜 

机构地区：[1]上海集成电路技术与产业促进中心

出　　处：《中国集成电路》2023年第8期81-85,共5页China lntegrated Circuit

摘　　要：伴随着半导体技术的进步和信息产业的快速发展,射频/微波半导体器件的应用广泛性在不断增加[1]。因此,对于这些器件参数的精确测量在设计阶段的重要性也随之上升。这不仅对芯片的设计者产生了深远影响,他们需要准确测量芯片的各项参数,同时也使得芯片的使用者期待获得准确的参数。在微波网络的S参数测量中,需要处理由于芯片键合线和传输线引起的测量误差[2]。因此,开发一种可以快速测量芯片阻抗、低成本、周期短且能够测量芯片相应S参数的方法具有极大的实际价值。本文从技术角度出发,探讨了这类通用的测量方法。

关 键 词：芯片阻抗 S参数 ADS仿真 阻抗匹配 阻抗测试方法 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]