一种针对非接触智能卡的抗干扰测试方法  

The anti-interference test methods for contactless smart card

作　　者：杨利华 YANG Li-hua(CEC Huada Electronic Design Co.,Ltd.,Beijing Key Laboratory of RFID Chip Test Technology)

机构地区：[1]北京中电华大电子设计有限责任公司,射频识别芯片检测技术北京市重点实验室

出　　处：《中国集成电路》2023年第8期86-89,共4页China lntegrated Circuit

摘　　要：智能卡业界领域很少有专门针对非接触智能卡的抗干扰测试方法,但非接触智能卡同样存在数据健壮性问题,需要进行抗干扰测试,本文专门介绍一种非接触智能卡的抗干扰测试方法。There are few anti-interference test methods for contactless smart card in the field of smart card industry,but contactless smart card also has the problem of data robustness,so anti-interference test is needed.This paper introduces an anti-interference test method for contactless smart card.

关 键 词：数据破坏 非接触智能卡 抗干扰测试 

分 类 号：TN97[电子电信—信号与信息处理]