X射线光电子能谱分析  被引量:1

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出  处:《金属热处理》2023年第10期214-214,共1页Heat Treatment of Metals

摘  要:X射线光电子能谱(XPS)也称为化学分析用电子能谱(ESCA),该方法是在20世纪60年代由瑞典科学家Kai Siegbahn教授发展起来的。由于在光电子能谱的理论和技术上的重大贡献,1981年,Kai Siegbahn教授获得了诺贝尔物理学奖。现在,X射线光电子能谱无论在理论上河实验技术上都已获得了长足的发展。XPS已从刚开始主要用来对化学元素的定性分析发展为表面元素定性、半定量分析及元素化学价态分析的重要手段。

关 键 词:元素化学 诺贝尔物理学奖 X射线光电子能谱分析 光电子能谱 价态分析 半定量分析 表面元素 定性分析 

分 类 号:O657.62[理学—分析化学]

 

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