插拔对贮存中矩形连接器接触性能的影响  

The Effect of Insertion and Unplugging on the Contact Performance of Rectangular Connectors in Storage

作　　者：陆鹏 王敏兴 王清亮 LU Peng;WANG Min-xing;WANG Qing-liang

机构地区：[1]苏州华旃航天电器有限公司,江苏苏州215129

出　　处：《机电元件》2023年第6期31-33,共3页Electromechanical Components

摘　　要：本文以JB1447电连接器为研究对象,深入分析连接器贮存过程中出现的氧化腐蚀和定期插拔对接触性能的影响[1]。在试验过程中模拟连接器加速退化的贮存条件,通过记录分析接触电阻数值以及接触件表面状态变化得出结论:插拔造成接触件表面镀金层的磨损,加速了接触件的氧化腐蚀速度,且插拔后会出现阻值跳变现象。退化进程越靠后的连接器,其接触电阻阻值跳变越大,恢复稳态时间越长。所以越是临近JB1447矩形连接器贮存年限的产品,插拔后连接器接触性能越不稳定,不宜立即使用。

关 键 词：连接器 插拔 贮存 接触电阻 退化 

分 类 号：TP391.9[自动化与计算机技术—计算机应用技术]