X射线荧光光谱法测定高硅硅酸盐岩石中的主次成分  

作　　者：吴雪萍 

机构地区：[1]厦门海关技术中心,福建厦门361026

出　　处：《化学工程与装备》2023年第11期195-197,共3页Chemical Engineering & Equipment

摘　　要：本文采用熔融玻璃片制样的方法对硅酸盐岩石进行前处理,通过X射线荧光光谱法测定硅酸盐岩石中SiO2、Al2O3、Fe2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O、P2O5等主次成分的含量,并通过人工添加高纯二氧化硅制备标准样品,考察熔融制样的条件,建立硅高含量的标准曲线,得到二氧化硅的测量范围为44%~100%,同时测定样品中的主要杂质元素,满足高硅硅酸盐岩石的检测要求。

关 键 词：X射线荧光光谱法 硅酸盐 熔融制样 二氧化硅 

分 类 号：O657.34[理学—分析化学] P585[理学—化学]