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作 者:毛晶[1] 毛春亮 郭倩颖[1] 马利利 MAO Jing;MAO Chun-liang;GUO Qian-ying;MA Li-li(School of Material Science and Engineering,Tianjin University,Tianjin 300072,China)
机构地区:[1]天津大学材料科学与工程学院,天津300072
出 处:《广州化工》2023年第17期40-43,共4页GuangZhou Chemical Industry
基 金:国家自然科学基金资助项目(钢表面阻变性保护膜的设计、制备与耐蚀机制研究)。
摘 要:材料的性能取决于材料的内部组织及结构,位错的存在及其运动方式是影响材料力学性能的重要因素。透射电镜利用电子束与样品作用,接收透过样品的电子束或是衍射束成像反应样品内部结构信息。位错周围的晶格畸变导致的透射电镜衍射衬度成像,是位错观察分析的有效手段。透射电镜衍射衬度对晶体结构及其取向很敏感,位错的观察随着电子束入射角度不同,将会呈现不同的特点。透射电镜的双束成像技术有助于获得对位错正确认识。针对高熵合金材料,通过电镜观察操作过程与示意图相结合的阐述方式,结合试验分析过程,详细展示了透射电镜双束成像技术及弱束成像原理步骤及分析。为高校测试室能够充分利用透射电镜对金属材料内部缺陷进行观察和分析提供了具体的实验指导。The transmission electron microscope can realize the morphology and structure analysis of nanometer sized areas at the same time,making it one of the most important characterization technique.TEM images take usage of the transmitted or diffracted electron beam,so it can reflect the inside structure of nanostructures.Diffraction contrast image is the effective way for observation of dislocation in crystalline structures.Because the distortion around the dislocation can lead to different diffraction contrast of images.Diffraction contrast image is sensitive to the orientation of nanostructure and the incidence angle of electron beams.Double beams illumination condition and weak beam illumination condition are vital for the correct observation of dislocations.Taking High entropy alloys material as an example,the specific measurement procedure of 2100F TEM was illustrated,and the theory and analysis of results were elaborated,which provided instructions for the analysis of dislocation of crystal structure with common TEM in university and research institute.
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