检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:彭过房 白耀文 李星星 PENG Guofang;BAI Yaowen;LI Xingxing(CEPREI,Guangzhou 511370,China)
机构地区:[1]工业和信息化部电子第五研究所,广东广州511370
出 处:《电子质量》2023年第12期98-102,共5页Electronics Quality
摘 要:首先,对印刷电路板(PCB)面板上的离子残留造成产品失效的情况进行了多方面介绍,说明了在现在电子产品制造的过程中,对PCB板面上的离子进行控制的重要性;其次,通过多个失效案例说明了对PCB板面上的离子进行测试的必要性,并介绍了离子测试技术的原理和方法;然后,对不同测试方法的差异进行了对比;最后,通过案例分析,明确了PCB板面离子测试对于电子产品可靠性提升的重要性。Firstly,the situation of product failure caused by ion residue on PCB panel is introduced in many aspects,and the importance of controlling the ions on PCB surface in the manufacturing process of electronic products is explained.Secondly,the necessity of testing of ion on PCB panel is explained through several failure cases,and the principle and method of ion testing technology are introduced.Then,the differences of different methods are compared.Finally,through the case analysis,the importance of the test of ion on the surface of PCB to improve the reliability of electronic products is clarified.
分 类 号:TB114.39[理学—概率论与数理统计]
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