化探样品分析中的X荧光光谱法  

作　　者：王毅民 

机构地区：[1]地矿部岩矿测试技术研究所

出　　处：《岩矿测试》1987年第1期64-67,共4页Rock and Mineral Analysis

摘　　要：地矿部岩矿测试技术研究所 本文主要围绕化探样品分析这一专题简介了x射线荧光分析技术的基本原理,仪器类型和一般特点,评述了这项技术现有的实际分析能力和在化探样品分析中能起的作用。同时也指出了它有待开发的方面和主要弱点。 当前区域化探扫面工作已在全国展开,岩矿分析者所承担的化探样品分析任务源源而来。由“规定”可知,化探样品分析所要求的元素种类多,含量范围宽,检出限低,精度和准确度高,而且样品量大,时间要求也较紧迫。这些要求是根据化探工作的需要结合当前岩矿分析的现有水平制定的。然而这两者都在随着科技水平的提高而不断变化,分析手段的发展尤为迅速。近年来,特别是80年代以来,X射线荧光(XRF)分析技术在我国冶金、地质、建材等部门的应用日益广泛,在化探样品分析中也已经并正在发挥着重要作用。据悉,地矿部今年又将引进一批全自动XRF谱仪,其中大部分仪器也将投入化探样品分析工作。

关 键 词：岩矿分析 地矿部 X荧光光谱法 元素种类 化探样品分析 岩矿测试技术 样品量 含量范围 

分 类 号：F42[经济管理—产业经济]