黑钨精矿中二氧化硅的X射线荧光光谱分析  

Determination of SiO_(2) in Wolframite Concentrates by XRF

作　　者：钟道国[1] 许春才[1] 王子箴 Zhong Daoguo;Xu Chuncai;Wang Zizhen

机构地区：[1]赣州有色冶金研究所

出　　处：《岩矿测试》1988年第2期148-148,I0013,共2页Rock and Mineral Analysis

摘　　要：本文采用粉末压片方法,以硼酸镶边垫底,将黑钨精矿粉末样品直接加压成型,用赛璐珞-丙酮溶液封固表面,然后上机测定。标准系列与样品的基体成份相近,以消除基体效应,分析二氧化硅的含量范围为0.1—10%,相对标准偏差约2%,分析精度能满足选矿流程要求。A pressed powder pellet with boric acid backing was used, 0.1-10% SiO_(2) can be easily determined with a RSD of 2%.

关 键 词：X射线荧光光谱分析 基体效应 上机测定 二氧化硅 丙酮溶液 粉末压片 加压成型 粉末样品 

分 类 号：O65[理学—分析化学]