基于WinForm的芯片测试管理系统设计  

作　　者：郭崇光 何用辉[1,2] 马孝荣 廖小玲 

机构地区：[1]福建信息职业技术学院智能制造学院,福建福州350003 [2]天津市智能机器人技术及应用企业重点实验室,天津300350

出　　处：《装备制造技术》2024年第2期103-107,111,共6页Equipment Manufacturing Technology

基　　金：2021年福建省中青年教师教育科研项目(JAT210733)。

摘　　要：芯片测试管理系统作为一种芯片测试过程信息化解决方案,可有效提升芯片测试程序的核心竞争能力。本研究以芯片测试为研究对象,通过对该芯片测试对某机构的深入调研,主要发现了芯片测试流程中存在数据管理不规范、信息化较低等问题,因此,本研究首先进行开发芯片测试管理功能需求分析,采用结构化软件设计方法;以WinForm和SQLsreve数据库为系统软件开发平台,设计了一套有效且可靠的芯片测试管理系统。该芯片测试管理系统的设计包括软件整体架构、各个工序功能模块、数据库结构和可视化界面等,满足了在芯片测试管理系统功12项功(系统管理、产品出入库、品检功能、测试功能、镭射功能、打点功能、烘烤功能、设备管理、异常处理、订单工艺、质量管理、可视化管理模块)能需求。最后,通过设计功能分析芯片设计流程、数据库、设备管理、可视化界面、工艺管理设计效果,展示了该芯片测试管理系统的性能、可靠性、依赖性等,提升了芯片测试的效率,为芯片制造行业提供支持。

关 键 词：WINFORM 管理系统 芯片测试 

分 类 号：TP391[自动化与计算机技术—计算机应用技术]