康普顿散射成像技术发展及应用  

作　　者：刘彦韬[1,2,3,4] 李昕 尚嘉宣 章志明 

机构地区：[1]中国科学院高能物理研究所北京市射线成像技术与装备工程技术研究中心,100049 [2]中国科学院大学核科学与技术学院,100049 [3]济南中科核技术研究院,250131 [4]国家原子能机构核技术(核探测与核成像)研发中心,100049

出　　处：《现代物理知识》2023年第6期3-11,共9页Modern Physics

基　　金：国家自然科学基金资助项目(11975248);中国科学院青年创新促进会资助项目(2021014)。

摘　　要：1.引言。自1895年德国物理学家W.C.Röntgen发现X射线以来,利用X射线的强穿透能力进行透射成像,就作为一项重要的无损检测技术在医学诊断、工业检测、安全检查、科研考古等领域被广泛应用。其中,基于多角度X射线透射图像的计算机断层成像(Computed Tomography,CT)技术更被视为当今综合性能最优的无损检测手段。

关 键 词：计算机断层成像 工业检测 医学诊断 康普顿散射成像 透射成像 德国物理学家 安全检查 透射图像 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]