检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:马文超 林杰 赵文志 MA Wenchao;LIN Jie;ZHAO Wenzhi(The 58th Research Institute of CETC,Wuxi 214035,China;CEPREI,Guangzhou 511370,China)
机构地区:[1]中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214062 [2]工业信息化部电子第五研究所,广东广州511370
出 处:《电子产品可靠性与环境试验》2024年第2期7-14,共8页Electronic Product Reliability and Environmental Testing
摘 要:电源电路的工作寿命决定了单机或整机的寿命,因此提出了一种采用基于敏感参数退化进行寿命预估的方法。首先,讨论了激活能对电源电路寿命预估的作用;然后,以电压基准电路、BUCK电路和线性稳压器3种不同类型的电源电路为实例,给出了寿命预测的试验方法和步骤,重点对试验数据处理、器件寿命方程和激活能进行了阐述。该方法可直接用于电源电路的寿命预估,具有一定的工程参考价值。The lifetime of the power supply circuit determines the lifetime of stand-alone machine or the whole equipment.Therefore,a lifetime prediction method based on the degradation of sensitive parameters is proposed.Firstly,the role of activation energy in the lifetime prediction of the circuit is discussed.Then,taking voltage reference circuit,BUCK circuit and linear voltage regulator as examples,the test methods and steps of life prediction are given.The test data processing,device life equation and activation energy are mainly discussed.This method can be directly used to predict the life of power supply circuit,and has certain engineering reference value.
分 类 号:TB114.3[理学—概率论与数理统计] TN86[理学—数学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:18.190.176.26