一款28nm电路的同步开关输出噪声的仿真与设计  

The Simulation and Design of a 28nmCircuit’s Simultaneous Switching Output

在线阅读下载全文

作  者:邹文英[1] 王淑芬[1] 高璐 李小强 陈柱江 ZOU Wen-ying;WANG Shu-fen;GAO Lu;LI Xiao-qiang;CHEN Zhu-jiang(The No.58 Research Institute of China Electronic Technology Group Corp)

机构地区:[1]中国电子科技集团公司第五十八研究所

出  处:《中国集成电路》2024年第5期40-45,共6页China lntegrated Circuit

摘  要:同步开关输出噪声是影响芯片信号完整性的主要噪声之一,较大的噪声有可能导致数字系统中元件的错误翻转。本文首先简要介绍了同步开关输出噪声的产生及特点,然后通过电路模型仿真,得到了与噪声相关的因素。最后结合实际电路,根据仿真的结果得到了控制同步开关输出噪声的方案。The simultaneous switching output(SSO)noise is important to the signal integrity and may induce false inversions in digital systems.The generation and the feature of SSO noise are introduced.Then the factors related to noise are given by SSO model simulation.Finally,based on the actual circuit and simulation results,a method for controlling SSO was presented.

关 键 词:同步开关噪声 同步开关输出 输入输出器件 

分 类 号:TN79[电子电信—电路与系统] TN40

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象