基于LK8820平台的数字芯片开短路测试  

作　　者：刘坤 马昌宁 张智涵 

机构地区：[1]苏州市职业大学电子信息工程学院,江苏苏州215104

出　　处：《微型计算机》2024年第5期172-174,共3页MicroComputer

摘　　要：本研究聚焦于基于LK8820平台的数字芯片开短路测试方法。首先介绍了LK8820测试平台,然后阐述了数字芯片开短路测试的原理,接着详细描述了测试方案的实施步骤。通过对74HC245芯片的16个引脚进行了开短路测试,结果表明,所有引脚对地的开短路测试均通过,未显示出任何开短路异常。因此,该数字芯片开短路测试结果具有有效性。该方法不仅能够准确检测数字芯片中开短路问题,而且具有较高自动化程度,提高了测试效率和准确性。

关 键 词：LK8820测试平台 74HC245芯片 开短路测试 芯片测试技术 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]