检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:盛健 Sheng Jian(Anhui Tongfeng Electronics Co.,Ltd.,Tongling,Anhui 244000,CHN)
机构地区:[1]安徽铜峰电子股份有限公司,安徽铜陵244000
出 处:《模具制造》2024年第6期139-141,共3页Die & Mould Manufacture
摘 要:基于温度对PDC法测试冲击电容器的结果影响展开研究,了解PDC法测试冲击电容的详细情况,保证PDC法测试冲击电容器的结果可靠性,可以提升测试水平。但是受到温度的影响,不利于PDC法测试冲击电容器的水平,可能导致结果出现变化。在测试时,要注意对结果的控制,降低温度的影响,提高测试水平。The impact of temperature on PDC test results of impact capacitors is studied to understand the details of PDC test of impact capacitors,ensure the reliability of PDC test results of impact capacitors,and improve the test level.However,due to the influence of temperature,it is not conducive to testing the level of impact capacitors using the PDC method,which can lead to changes in the results.So during testing,attention should be paid to controlling the results,reducing the impact of temperature,and improving the testing level.
分 类 号:TM938[电气工程—电力电子与电力传动]
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