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检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:孔胜男 许实 KONG Shengnan;XU Shi(Instrumental Analysis Center,Shanghai Jiaotong University,Shanghai 200240,China)
出 处:《计量学报》2024年第5期755-760,共6页Acta Metrologica Sinica
基 金:国家自然科学基金青年科学基金(52001203)。
摘 要:建立了超声密闭消解-电感耦合等离子体发射光谱法测定铝合金中硅元素含量的分析方法。通过优化样品前处理条件,对超声强度、密闭条件、超声温度、超声时间及酸的浓度进行筛选,选择合适的分析谱线,测定了铝合金中等含量硅。对不同硅含量的铝合金ZLD105,ZBY5291,ZBY5091进行了精密度及准确度实验,其相对标准偏差(S_(RSD))在0.3%~0.7%,加标回收率在98.9%~101.0%。该方法分析成本低、快速、准确、方便,完全可应用于实际样品测试。Determination of silicon content in aluminum alloys using ultrasonic sealed digestion-inductively coupled plasma atomic emission spectrometry was established.By optimizing the digestion conditions of the sample,screening the ultrasonic intensity,sealing conditions,ultrasonic temperature,ultrasonic time,and acid concentration,and selecting appropriate analytical spectral lines,the medium content of silicon element was determined.Precision and accuracy experiments were conducted on aluminum alloys ZLD105,ZBY5291 and ZBY5091 with different silicon contents.The relative standard deviation(S_(RSD))was 0.3%~0.7%,and the recovery rate was 98.9%~101.0%.This method is low-cost,fast,accurate,and convenient for analysis,and can be applied to actual sample testing.
关 键 词:化学计量 超声封闭消解 电感耦合等离子体发射光谱仪 铝合金 硅
分 类 号:TB99[一般工业技术—计量学]
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