基于有限元的弹性压接型IGBT器件功率循环寿命预测  

作　　者：任学龙 

机构地区：[1]俐玛光电科技(北京)有限公司,北京100000

出　　处：《今日制造与升级》2024年第3期140-142,共3页Manufacture & Upgrading Today

摘　　要：现有的预测方法主要使用极端梯度提升树模型进行多层次预测训练,易受预测目标函数影响,导致预测性能不佳,因此,文章提出基于有限元的弹性压接型IGBT器件功率循环寿命预测方法。该方法构建了IGBT器件功率循环寿命预测有限元模型,计算了弹性压接型IGBT器件功率循环寿命预测参数,从而实现了功率循环寿命预测。实验结果表明,设计的弹性压接型IGBT器件功率循环寿命预测方法的预测均方根误差RMSE、平均绝对百分误差MAPE、平均绝对误差MAE均较低,预测训练时间较短,证明设计的IGBT器件功率循环寿命预测方法的预测效果较好,具有可靠性,有一定的应用价值。

关 键 词：弹性压接型 IGBT器件 功率循环 寿命预测 

分 类 号：TN322.8[电子电信—物理电子学]