叶片磁粉检测偏析显示的验收技术条件研究  

作　　者：李凌 熊裕 张集 周先火 

机构地区：[1]中国航发航空科技股份有限公司,成都610503

出　　处：《无损探伤》2024年第3期29-31,35,共4页Nondestructive Testing Technology

摘　　要：本文主要研究叶片磁粉检测偏析显示在无验收标准的情况下如何进行验收的问题。偏析的形成原因复杂,种类繁多,在产品中,偏析存在的部位不同,造成的危害性也不相同。叶片磁粉检测时有偏析显示的数量较大,如果都按废品处理会造成公司较大损失;如果按合格处理,无法通过客户验收并提交零件。本文通过分析公司近大半年产品的磁粉检测报废数据以及偏析显示的数量和显示情况,并结合金相分析结果和叶片标准件上人工刻槽显示情况,制定偏析验收技术条件,并将该技术条件作为后续叶片偏析的验收标准,获得客户的认可。该验收技术条件也可以为其他叶片偏析验收起到借鉴作用。

关 键 词：叶片偏析 验收技术条件 金相分析 叶片标准件 磁粉检测 

分 类 号：TG115.28[金属学及工艺—物理冶金]