头颅磁共振成像对脑损伤早产儿神经发育异常的诊断价值  

作　　者：康梦菲 

机构地区：[1]苏州大学附属儿童医院放射科,江苏苏州215000

出　　处：《影像研究与医学应用》2024年第10期63-65,共3页Journal of Imaging Research and Medical Applications

摘　　要：目的:分析头颅磁共振成像(MRI)在脑损伤早产儿神经发育异常中的应用价值。方法:选取2021年1月—2023年9月苏州大学附属儿童医院收治的250例早产儿为研究对象,根据头颅MRI检查结果分为脑损伤组(65例)和非脑损伤组(185例),比较两组患儿额叶、背侧丘脑、基底叶和放射冠ADC以及神经发育成熟度、矫正胎龄至3个月时新生儿神经行为测定(NBNA)量表和格塞尔发育(Gesell)量表评分,分析ADC和神经发育成熟度与NBNA和Gesell评分的相关性。结果:脑损伤组患儿额叶、背侧丘脑、基底叶及放射冠ADC均高于非脑损伤组,差异有统计学意义(P<0.05),髓鞘化、皮质卷曲、胶质细胞迁移带及胚芽基质残余评分以及NBNA和Gesell评分均低于非脑损伤组,差异有统计学意义(P<0.05)。Pearson相关性分析结果显示,ADC与NBNA和Gesell评分均呈负相关性(P<0.05),神经发育成熟度总分与NBNA和Gesell评分均呈正相关性(P<0.05)。结论:头颅MRI可在一定程度上提示脑损伤早产儿后期神经发育情况,有助于脑损伤早产儿神经发育异常的早期诊断。

关 键 词：早产儿 脑损伤 神经发育 磁共振 表观弥散系数 神经行为 

分 类 号：R445.2[医药卫生—影像医学与核医学]