技术分析在预防和缓解数字集成电路失效现象中的作用研究  

作　　者：赵华霖 

机构地区：[1]池州学院

出　　处：《华东科技》2024年第5期42-44,共3页east china science & technology

摘　　要：数字集成电路是现代电子设备的核心组成部分,其稳定性和可靠性对设备的整体性能具有重要影响。基于此,本文探讨了数字集成电路失效的核心机理和表征,总结了技术分析在预防、缓解数字集成电路失效现象等方面的作用,以期为相关领域的研究者及工程师提供有价值的参考。

关 键 词：数字集成电路 电子设备 稳定性和可靠性 失效现象 工程师 整体性能 预防 

分 类 号：TN431.2[电子电信—微电子学与固体电子学]