MOS管失效案例分析  

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作  者:王奕轩 方志强 

机构地区:[1]南京赛宝工业技术研究院有限公司,江苏南京210000 [2]芜湖赛宝机器人产业技术研究院有限公司,安徽芜湖241000

出  处:《今日制造与升级》2024年第6期146-148,共3页Manufacture & Upgrading Today

摘  要:文章通过外部目检分析、X-ray分析、I-V特性测试分析等手段,分析MOS管失效原因。

关 键 词:MOS管 开封 金属化热熔 失效分析 

分 类 号:TN386.1[电子电信—物理电子学]

 

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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