用于磁力显微镜探针覆盖层的FePt-MgO薄膜的结构与磁性研究  

作　　者：周杰[1] 郑富 

机构地区：[1]宁夏大学物理学院,宁夏银川750021

出　　处：《信息记录材料》2024年第8期36-39,共4页Information Recording Materials

基　　金：国家自然科学基金项目(11964027);宁夏自然科学基金项目(2023AAC03079)。

摘　　要：磁力显微镜(magnetic force microscopy,MFM)是研究磁性材料与器件纳米尺度磁畴结构的有力工具,MFM探针性能直接影响到MFM的空间分辨率。本文研究了退火温度对FePt-MgO薄膜结构与磁性能的影响,并对MFM探针制备条件进行优化。研究结果表明:随着退火温度升高,FePt-MgO薄膜的表面形貌变得粗糙且不连续,薄膜的矫顽力增大,测得的磁畴密度减小,畴壁变得模糊;使用自制的MFM探针可以成功测得硬磁薄膜、磁带及硬盘驱动器介质的磁畴结构。

关 键 词：磁力显微镜探针 FePt-MgO薄膜 矫顽力 磁畴 

分 类 号：TB383[一般工业技术—材料科学与工程]